IDDQ测试

作品数：22被引量：17H指数：2
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一种实用CMOS芯片开路和短路特性测试的新方法
《电工电气》2009年第9期50-53,共4页杨卫 
IDDQ测试是一种新的集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早期失效器件。介绍了一种新型的IDDQ开路和短路测试方法;利用模拟开关和简单的电流源并利用带A/D模块的MC...
关键词：IDDQ测试 微控制器 电流源 模拟开关 CMOS芯片 
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