IDDQ测试

作品数：22被引量：17H指数：2
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系统芯片I_(DDQ)可测试设计规则和方法被引量：4
《测试技术学报》2002年第3期162-166,共5页冯建华 孙义和 
目的　为了使 IDDQ测试方法对 SOC(系统芯片 ) IC能继续适用 ,必须实现 SOC IDDQ的可测试性设计 ,解决因 SOC设计的规模增大引起漏电升高问题 .方法　传统的电路分块测试方法存在需要增加引腿代价 ,因此是不实际的 .本文提出了一种通过 ...
关键词：系统芯片 可测试性设计 内核 IDDQ测试 SOC 集成电路 
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