MIS器件

作品数:16被引量:13H指数:2
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相关机构:中国科学院昆明物理研究所昆明理工大学西利康尼克斯股份有限公司更多>>
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HgCdTe MIS器件的制备及其界面电学特性的研究(下)被引量:1
《红外》2007年第1期17-20,共4页何波 史衍丽 徐静 
介绍了用高、低频组合电容法测量HgCdTe MIS器件钝化层界面态密度能量分布的基本原理和步骤.研究表明,自身阳极硫化+单层ZnS对HgCdTe的表面钝化已经达到光伏焦平面器件表面钝化的各项要求.
关键词:HGCDTE MIS器件 表面钝化 界面电学特性 
HgCdTe MIS器件的制备及其界面电学特性的研究(上)被引量:2
《红外》2006年第12期4-9,共6页何波 史衍丽 徐静 
介绍了HgCdTe MIS器件的制备及由其C-V特性计算、分析界面电学特性的基本原理和步骤.利用MIS器件高频C-V曲线耗尽区的电学特性推导了衬底杂质浓度随深度分布的计算公式。
关键词:HGCDTE MIS器件 表面钝化 界面电学特性 
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