测试调度

作品数：46被引量：152H指数：7
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相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
相关作者：俞洋彭喜元许川佩梁华国胡聪更多>>
相关机构：合肥工业大学桂林电子科技大学哈尔滨工业大学上海大学更多>>
相关期刊：《清华大学学报（自然科学版）》《微电子学》《上海交通大学学报》《电子科技文摘》更多>>
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功耗约束下的3D多核芯片芯核级测试调度算法被引量：11
《电子测量与仪器学报》2012年第7期591-596,共6页王伟 林卓伟 陈田 刘军 方芳 吴玺 
国家自然科学基金项目(No.61106037);国家高技术研究发展计划(863计划;No.2012AA011103);中央高校基本科研业务费专项资金资助;合肥工业大学研究生教改项目(YJG2010X10);合肥工业大学博士专项科研资助基金项目(No.2011HGBZ1285);计算机体系结构国家重点实验室开放课题(CARCH201101)
三维堆叠集成电路测试中的一个关键的挑战是在功耗约束下,在绑定前测试和绑定后测试中,协同优化测试应用时间和测试硬件开销。将传统的二维芯片的绑定前和绑定后测试调度方法运用于三维堆叠集成电路的测试调度会导致测试应用时间的延长...
关键词：测试调度 三维堆叠集成电路 测试结构 JTAG 过硅通孔 
一种三维SoCs绑定前的测试时间优化方法被引量：12
《电子测量与仪器学报》2011年第2期164-169,共6页欧阳一鸣 刘蓓 梁华国 
国家自然科学基金(编号:60876028)资助项目;国家自然科学基金重点项目(编号:60633060)资助项目;安徽省自然科学基金(编号:090412034)资助项目;安徽高校省级自然科学研究重点项目(编号:KJ2010A269)资助项目
提出了一种在引脚和功耗限制下3D SoCs的绑定前测试方法。对IP核细粒度划分,将每个IP核的触发器数均衡分布到各层芯片上,利用TSV进行互连,设计出一种新颖的三维结构的测试外壳扫描链,同时在功耗和引脚限制下对IP核进行测试调度。实验结...
关键词：三维片上系统 三维扫描链设计 测试调度 测试时间 
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