测试矢量

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含存储器数字电路板的TPS开发研究
《半导体技术》2006年第12期926-929,934,共5页成本茂 鞠艳秋 王红 杨士元 
国家973计划资助项目(2005CB321604)
提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地...
关键词：存储器 测试矢量集 结构测试 功能测试 
ASIC设计中测试矢量产生与验证
《半导体技术》2001年第3期42-47,共6页居水荣 
介绍了ＡＳＩＣ设计过程中测试矢量的产生与验证步骤，包括激励编写规则、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。
关键词：专用集成电路设计 验证 测试矢量 激励 波形 
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