测试矢量

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含存储器数字电路板的TPS开发研究
《半导体技术》2006年第12期926-929,934,共5页成本茂 鞠艳秋 王红 杨士元 
国家973计划资助项目(2005CB321604)
提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地...
关键词:存储器 测试矢量集 结构测试 功能测试 
八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究
《实验技术与管理》2001年第1期57-60,共4页高力立 单羽 
本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法,并对其测试矢量做了介绍。
关键词:八位嵌入式微处理器内核 测试矢量 测试方法 智能卡 
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