超深亚微米工艺

作品数：12被引量：25H指数：3
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针对线间串扰现象的静态定时分析被引量：2
《计算机工程与科学》2005年第4期25-28,53,共5页沈培福 李华伟 
国家自然科学基金项目(90207002;60242001);中科院计算所基础研究基金(20036160)
超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,则可以...
关键词：集成电路 制造工艺 超深亚微米工艺 线间串扰现象 静态定时分析 
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