超深亚微米工艺

作品数：12被引量：25H指数：3
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超深亚微米工艺下基于热量分区的SoC热感知测试调度方法
《计算机应用研究》2015年第12期3682-3684,3696,共4页焦铬 李浪 刘辉 邹祎 
湖南省科技厅科技计划资助项目(2013FJ3077);湖南省教育厅资助科研项目(12C1084);衡阳市科技计划资助项目(2012KJ31);湖南省"十二五"重点建设学科资助项目(湘教发[2011]76号)
在超深亚微米时代,功耗不但直接影响芯片的封装测试成本,而且过高的功耗将导致芯片热量的增加,影响着芯片的可靠性,为了保证芯片测试的热安全,基于热感知的测试调度方法越来越受到重视。综合考虑超深亚微米工艺下,漏电功耗、空闲芯核唤...
关键词：超深亚微米 片上系统 热量分区 热感知测试调度 
超深亚微米工艺下预防串扰方法被引量：1
《无线电通信技术》2011年第2期42-44,共3页李斌 赵一诗 曹纯 廖春连 
随着工艺特征尺寸的不断缩小,芯片的信号完整性问题逐渐恶化。根据超深亚微米(ultra-deep submicron,UDSM)工艺特性,阐述了串扰噪声和同步开关噪声(Simultaneous Switch Noise,SSN)的产生机理以及对芯片信号完整性的影响,并且分析了走...
关键词：超深亚微米 串扰噪声 同步开关噪声 预防 
超深亚微米工艺下的电路级耦合SET脉冲注入被引量：1
《Journal of Semiconductors》2008年第9期1819-1822,共4页刘必慰 陈书明 梁斌 刘征 
高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(批准号:20079998015)~~
超深亚微米工艺下在电路模拟器中使用独立电流源方法的单粒子瞬态(single event transient,SET)脉冲注入与实验结果有很大误差.作者提出了一种基于二维查找表的耦合电流源注入的方法,并且基于开源的SPICE代码实现.该方法的计算结果与器...
关键词：单粒子瞬态 脉冲注入 辐射效应 
超深亚微米工艺时代集成电路设计领域所面临的技术挑战被引量：3
《中国集成电路》2006年第7期29-33,64,共6页蒋安平 
集成电路工艺加工能力的不断提高给设计工作带来了多方面需要解决的问题。本文主要探讨目前在集成电路设计领域各个方面的设计技术挑战和研究热点问题。
关键词：集成电路工艺 设计领域 设计技术 超深亚微米工艺 加工能力 
超深亚微米工艺下模拟IC仿真的MOSFET模型被引量：2
《微纳电子技术》2006年第4期203-208,共6页段成华 柳美莲 
国家863计划项目(2002AA141041)
对MOSFET器件特性、MOSFET建模方法和建模发展历程进行了回顾,分析了在模拟集成电路低功耗设计中比较流行的模型(BSIM3和EKV模型),对它们进行了比较,分析其各自的优点和缺点。结果表明获得能够精确地预测高性能模拟系统的模型是很困难的...
关键词：模拟IC MOSFET建模 BSIM3模型 EKV模型 反型系数 短沟道效应 中间反型区 
IP核互连策略及规范被引量：2
《今日电子》2005年第8期42-45,共4页陈林 王家兵 
关键词：互连技术 IP核 超深亚微米工艺 设计能力 IC设计 工艺能力 微处理器 系统发展 设计风险 
针对线间串扰现象的静态定时分析被引量：2
《计算机工程与科学》2005年第4期25-28,53,共5页沈培福 李华伟 
国家自然科学基金项目(90207002;60242001);中科院计算所基础研究基金(20036160)
超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,则可以...
关键词：集成电路 制造工艺 超深亚微米工艺 线间串扰现象 静态定时分析 
SoC片上系统技术在武器装备上的应用被引量：3
《飞航导弹》2005年第4期27-29,共3页栾传俊 彭力彬 李保林 王宏宇 
介绍了SoC片上系统技术、IP知识产权核和片上互联,以及硬件-软件协同设计过程,并通过SoC片上系统技术在军事装备上的应用研究,体现出其潜在的军事应用价值。
关键词：SoC片 集成电路 超深亚微米工艺 嵌入式结构 微处理器 
基于Boole过程的考虑互连延迟的逻辑电路波形模拟中的关键问题被引量：1
《计算机工程与应用》2003年第6期13-15,40,共4页冯刚 马光胜 杜振军 
国家自然科学基金项目资助(编号:69973014)
论文运用Boole过程论中对逻辑电路进行描述和计算的基本思想,较好地解决了逻辑电路波形模拟中的冒险检测与消除、反馈环路处理、伪路径识别和惯性延迟冲突等关键问题。在此基础上,面向详细布线提出RC延迟与动态加载串扰相结合的互连线...
关键词：Boole过程 互连延迟 波形模拟 惯性延迟 耦合电容 逻辑电路 超深亚微米工艺 
单元特性提取中采样点偏离现象的研究被引量：2
《微电子学》2003年第1期22-25,共4页李伟良 葛海通 罗晓华 梁中书 严晓浪 
　为使应用于集成电路设计中的单元时序信息库更能反映实际情况,研究了特性提取中出现的采样点分布偏移和格点偏离现象,并提出了有效的解决方法。该方法通过建立查表模型,无需多次重复仿真就能准确定位任意采样点。理论分析和仿真结果...
关键词：超大规模集成电路 特性提取 采样点 查表模型 超深亚微米工艺 时序信息库 采样点 
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