杨婷

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发文主题:内建自测试低功耗测试存储介质参与方氧化锡更多>>
发文领域:经济管理自动化与计算机技术电气工程电子电信更多>>
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基于测试片段间转移的低功耗BIST实现
《微处理机》2007年第2期8-10,13,共4页杨婷 邝继顺 
国家自然科学基金(60173042)
随机测试向量产生时,一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的。文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构,该结构采用有效测试向量片段间转移的方式,除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量,并把有...
关键词:内建自测试 测试向量片断 低功耗测试 
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