董涪鑫

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供职机构：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院更多>>
发文主题：IEEE1149.1USB2.0USB边界扫描测试更多>>
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基于USB2.0的边界扫描测试控制器的设计
《大众科技》2012年第3期18-20,共3页董涪鑫 颜学龙 
边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计方法,它用特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,深入研究了IEEE1149.1边界扫描标准,文章针对传统的边界扫描测试控制器的接口复杂度高,边界扫描测试控制器硬件复杂、成...
关键词：边界扫描测试控制器 IEEE1149.1 USB 
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