戴名奎

作品数：5被引量：39H指数：2
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供职机构：中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
发文主题：表面疵病光学元件疵病衍射光强衍射光强分布更多>>
发文领域：机械工程理学电子电信金属学及工艺更多>>
发文期刊：《光学仪器》《光学学报》《中国激光》更多>>
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衍射光强取样分析法测定划痕宽度:实验部分被引量：1
《光学学报》1998年第1期90-94,共5页戴名奎 徐德衍 沈卫星 
根据衍射光强取样分析法理论部分的测量原理设计了一套实验方案，比较了该方法与轮廓仪、显微镜对划痕实际宽度的测试结果，给出了其相对测量误差，并分析了误差的主要来源。该方法速度快，精度高，有推广和应用的价值。
关键词：衍射花样 划痕宽度测量 衍射光强 取样分析 
超半口径补偿剪切干涉法测量脉冲激光波面半径被引量：2
《中国激光》1997年第4期311-314,共4页徐德衍 戴名奎 沈卫星 蒋玉柱 
针对当前对脉冲激光波面半径测量缺乏有效的测试方法，提出了集大错位与等光程于一体的四平板剪切干涉法，达到对脉冲激光波面半径的高精度测量。Ｒ值在３０～１０００ｍ的范围内，测量误差小于±５％
关键词：波面半径 等光程 剪切干涉 脉冲激光技术 
衍射光强取样分析法测定划痕宽度:理论部分被引量：3
《光学学报》1997年第3期351-356,共6页戴名奎 徐德衍 
在理论上分析了截面为矩形、三角形和余弦形的划痕的衍射花样的相似性，并在此基础上提出了一种测定划痕宽度的衍射光强取样分析法。本文还就消除光阑衍射光及粗糙度散射光的干扰提出了行之有效的措施。
关键词：衍射光强分布 实际宽度 等效线宽 
光学元件的疵病检验与研究现状(续)被引量：12
《光学仪器》1996年第4期32-39,共8页戴名奎 徐德衍 
“光学零件表面疵病”曾在国家标准GB1031－68及GB1185－89中做过专门描述。研究发现，这些标准与国际上一些国家的相关标准及测试方法相差较大，而最近国际光学委员会推荐的一个不同用途光学元件的疵病指标值得注意[1]。本文在介绍了...
关键词：表面疵病 光学仪器 光学元件 
光学元件的疵病检验与研究现状被引量：30
《光学仪器》1996年第3期33-36,共4页戴名奎 徐德衍 
“光学零件表面疵病”曾在国家标准GB1031－68及GB1185－89中做过专门描述。研究发现，这些标准与国际上一些国家的相关标准及测试方法相差较大，而最近国际光学委员会推荐的一个不同用途光学元件的疵病指标值得注意[1]。本文在介绍了...
关键词：表面疵病 等效线宽 光学元件 
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