云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- 吴伟超

吴伟超: 作品数：1被引量：0H指数：0; 导出分析报告; 供职机构：中国科学院微电子研究所更多>>; 发文主题：ALGAN/GAN_HEMTSTFRTANRELIABILITYNICR更多>>; 发文领域：电气工程更多>>; 发文期刊：《Journal of Semiconductors》更多>>; 所获基金：国家重点基础研究发展计划中国科学院重点实验室基金更多>>

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Characterization and Reliability of Thin Film Resistors for MMICs Application Based on AlGaN/GaN HEMTs: 《Journal of Semiconductors》2008年第7期1246-1248,共3页姚小江蒲颜刘新宇吴伟超; 国家重点基础研究发展计划(批准号:2002CB311903);中国科学院重点创新(批准号:KGCX2-S W-107)资助项目~~; Tantalum nitride （TAN） and nichrome （NiCr） are the two most common materials used as thin film resistors （TFR） for monolithic microwave integrated circuits （MMIC） based on AlGaN/GaN high electron mobility tran...; 关键词：TAN NICR TFR RELIABILITY MMIC