张松

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基于改进Yolov5s的光刻热点检测算法
《激光与光电子学进展》2023年第24期243-251,共9页吴清岳 刘佳敏 张松 江浩 刘世元 
国家自然科学基金(52130504,51975232,52205592);湖北省重点研发计划(2022BAA013)。
光刻热点检测是实现集成电路可制造性设计,保障集成电路芯片最终良率的关键。鉴于传统基于深度学习的光刻热点检测方法难以满足先进集成电路制造对检测精度的要求,提出了一种基于改进Yolov5s的检测算法,用于光刻版图热点缺陷的精确检测...
关键词:光刻热点检测 改进Yolov5s 检测精度 坐标注意力机制 Sigmoid线性单元激活函数 Scylla交并比损失函数 
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