古文刚

作品数：5被引量：14H指数：2
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供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
发文主题：电子元器件测量仪器可靠性分析半导体集成电路行业供应链更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电子电信机械工程经济管理更多>>
发文期刊：《科学技术创新》《电子产品可靠性与环境试验》更多>>
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半导体集成电路行业供应链研究与发展展望被引量：9
《科学技术创新》2019年第3期195-196,共2页张腾飞 蔡戬 王卫东 吴金平 古文刚 
集成电路芯片是电子产品的核心器件,被誉为是现代工业的"粮食",在现代科技发展中发挥着极其重要的作用。半导体集成电路行业属于高度资金密集和高度技术密集型产业,因此加强该行业供应链研究,对提升一个国家半导体集成电路行业竞争力具...
关键词：半导体集成电路行业 供应链管理技术 发展 
军用软件测评实验室能力评估指标体系研究被引量：2
《电子产品可靠性与环境试验》2018年第3期33-36,共4页窦小强 古文刚 黄茂生 
为了有效地评估军用软件测评实验室的综合能力,便于军用软件测试服务采购方和主管机关评估选择恰当的测评实验室,提高测试效果,提出了军用软件测评实验室的综合能力评估指标体系,从测评规模、技术能力、行业覆盖和授权等10个方面进行了...
关键词：军用软件 软件测试 实验室 能力评估 指标体系 
电子元器件生产线Cpk实施过程控制要求研究
《电脑知识与技术（过刊）》2017年第11X期253-254,263,共3页许志涛 蔡戬 王卫东 吴金平 古文刚 孙丽 赵惠芹 赖燕 
该文首先对Cpk的实施过程及相关理论进行了描述;然后从理论控制和协议要求方面对Cpk的实施提出了控制要求,为电子元器件生产线Cpk的实施提供了指导。
关键词：生产线 关键工序 CPK 
砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究被引量：2
《电子产品可靠性与环境试验》2007年第2期43-48,共6页王蕴辉 莫郁薇 吴海东 张增照 古文刚 聂国健 
在对微波单片集成电路(MMIC)的失效模式和失效机理进行分析的基础上,提出了砷化镓微波单片集成电路(GaAs MMIC)的可靠性预计数学模型,并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT。在大量统计工艺数据和文献数据的...
关键词：微波单片集成电路 可靠性预计 寿命试验 
电子元器件综合优选信息系统被引量：1
《电子产品可靠性与环境试验》2005年第B12期38-42,共5页郑丽香 古文刚 杨培亮 聂国健 张增照 林长苓 马阳华 
电子元器件是电子装备的基础,是保证装备高可靠性的基本单元。严格控制选用元器件的质量,保证和促进高质量元器件的应用是提高装备质量与可靠性水平的关键。综合优选信息系统为电子元器件的选用和管理提供全面、准确和动态的信息,是设...
关键词：电子元器件 信息系统 优选 
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