谢波

作品数：2被引量：2H指数：1
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供职机构：防化研究院更多>>
发文主题：GM计数管可靠性计数管电子元器件使用寿命更多>>
发文领域：核科学技术电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《核电子学与探测技术》《电子产品可靠性与环境试验》更多>>
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一种研究电子元器件失效规律的新方法被引量：2
《电子产品可靠性与环境试验》2003年第2期19-23,共5页谢波 怀光利 张国明 陈洪涛 张皓 李继源 
提出并采用了一种研究GM管失效规律的新方法,利用该方法研究了两种GM管的失效规律,并据此确定其使用寿命为18～20年,在此期间的失效率分别为5×10-6/h和4×10-6/h。
关键词：电子元器件 失效规律 GM计数管 使用寿命 可靠性 
GM计数管的失效规律研究
《核电子学与探测技术》2002年第2期100-104,共5页李继源 怀光利 谢波 张皓 
GM计数管的可靠性应当以失效的工作时间 -寿命 ,以及在寿命期间的失效率来表征。提出并采用了一种 GM管失效规律的新方法 ,该方法的要点是 :测试正在使用的仪器中的 GM管 ;记录测得的性能参数和仪器与计数管的其他信息 ;建立数据库 ,确...
关键词：GM计数管 核辐射探测 可靠性 寿命 失效规律 探测器 
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