杜春艳

作品数：1被引量：1H指数：1
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供职机构：西安电子科技大学微电子学院微电子研究所更多>>
发文主题：CMOS数字电路抗热载流子热载流子效应更多>>
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CMOS数字电路抗热载流子研究被引量：1
《电子产品可靠性与环境试验》2004年第1期10-14,共5页杜春艳 庄奕琪 罗宏伟 李小明 
电子元器件可靠性及其应用技术国家重点实验室基金(514330301)
介绍了热载流子效应与电路拓扑结构及器件参数之间的关系,并在此基础上提出了基本逻辑门的一些抗热载流子加固方法。通过可靠性模拟软件验证这些方法,为CMOS数字电路提高抗热载流子能力提供了参考。
关键词：热载流子效应 可靠性设计 可靠性模拟 
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