崔伟

作品数：1被引量：1H指数：1
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发文主题：EVMRFIC可测性设计内建自测试射频集成电路更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《北京大学学报（自然科学版）》更多>>
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一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法被引量：1
《北京大学学报（自然科学版）》2014年第4期709-714,共6页崔伟 冯建华 叶红飞 闫鹏 
国家自然科学基金(61176039)资助
提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试,设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明,此方法能够正确检测出系统故障,可以应用于生产测试,并能减少测...
关键词：内建自测试 LOOPBACK 可测性设计 衰减器 射频集成电路 误差向量幅值(EVM) 
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