杨宇欣

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供职机构：长春光学精密机械学院电子工程系更多>>
发文主题：电压异质结CDSCUINSE2SE更多>>
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CdS／CuInSe_2异质结内建电压测试理论和方法的研究
《Journal of Semiconductors》1995年第9期669-672,共4页杨文库 杨宇欣 邓文荣 
本文提出了精确测量内建电压Ｖ_Ｄ的Ｗ（结宽）－Ｎ（Ｎｅｆｆ为有效空间电荷密度）新方法．文中严格证明了由Ｗ－Ｎ曲线的斜率可计算异质结的ＶＤ．在零偏压下测量了ＣｄＳ／ＣｕＩｎＳｅ２异质结的ＶＤ，样品ＣＩＳ－１的ＶＤ为０．...
关键词：CDS CUINSE2 异质结 电压 测试 能带结构 半导体 
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