候立刚

作品数：1被引量：6H指数：1
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供职机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
发文主题：VLSIPAE物理设计迭代天线效应更多>>
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深亚微米VLSI物理设计中天线效应的预防及修复被引量：6
《微电子学与计算机》2007年第8期42-45,48,共5页王伟 冯哲 候立刚 吴武臣 
深亚微米超大规模集成电路(VLSI)中金属互连线的天线效应(PAE)将会严重影响芯片物理设计的结果,甚至造成设计的失败。因此详细分析了天线效应的产生、危害和计算方法,重点讨论了深亚微米VLSI芯片物理设计中的PAE预防和修复方法,并且针...
关键词：天线效应(PAE) 深亚微米 VLSI 物理设计 预布线 迭代 
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