袁晨

作品数：2被引量：6H指数：2
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供职机构：北京大学软件与微电子学院更多>>
发文主题：静电LEDESD老化过程可靠性更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《半导体光电》《北京大学学报（自然科学版）》更多>>
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共振隧穿现象与LED失效模型的分析方法被引量：2
《北京大学学报（自然科学版）》2011年第6期1151-1154,共4页袁晨 严伟 
上海市科学技术委员会(09DZ1141504);国家自然科学基金(61072038)资助
针对实验中发现的受静电损伤LED与共振隧穿二极管（RTD）模型有相似表现的现象，提出一种LED失效分析方法。经过500～3000V的HBM模型损伤，一部分失效LED的1-V曲线表现出类似共振隧穿二极管（RTD），正向电流呈现隧道电流的特征，证实...
关键词：LED 静电 失效分析 
LED静电损伤在老化过程中的变化趋势被引量：4
《半导体光电》2011年第3期339-342,共4页袁晨 代文文 陈楚 严伟 
针对发光二极管(LED)的可靠性问题,将抗静电测试与高温老化实验结合,将蓝绿色发光材料制成的二极管分组,测试其经过老化过程后的光色参数变化。实验数据表明,蓝绿色LED裸片与封装样品老化过程中的衰减趋势有一定差异,老化程度与封装材...
关键词：LED 阿伦尼斯 ESD 可靠性 
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