李含东

作品数:1被引量:3H指数:1
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供职机构:四川大学材料科学与工程学院材料科学系更多>>
发文主题:布里奇曼法CDZNTE晶体激活能电阻率更多>>
发文领域:理学更多>>
发文期刊:《人工晶体学报》更多>>
所获基金:四川省科技攻关计划国家教育部博士点基金国家自然科学基金更多>>
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CdZnTe晶体的缺陷能级分析被引量:3
《人工晶体学报》2004年第2期189-191,共3页韦永林 朱世富 赵北君 王瑞林 高德友 魏昭荣 李含东 唐世红 
国家自然科学基金(60276030);教育部博士点基金资助项目;四川省科技攻关重点项目(02GG009 010)
通过测试富Cd原料无籽晶垂直布里奇曼法生长出的高阻Cd0.8Zn0.2Te(CZT)单晶体的I T特性曲线,利用热激活能原理来分析单晶体内的缺陷,结果得到晶体中有一个由镉空位引起的电子陷阱,其深度为0.539eV。由于俘获能级有较高的激活能,在常温下...
关键词:CDZNTE晶体 缺陷能级分析 布里奇曼法 激活能 俘获能级 电阻率 碲锌镉单晶体 
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