李晓民

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供职机构:北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性实验室更多>>
发文主题:ICP-AES氧注入SOI材料高剂量金属污染更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《Journal of Semiconductors》更多>>
所获基金:国家自然科学基金更多>>
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应用ICP-AES表征高剂量氧注入过程中的金属污染
《Journal of Semiconductors》2003年第8期813-816,共4页马芙蓉 李雪春 梁宏 吴虎才 李晓民 陈如意 罗晏 卢志恒 
国家自然科学基金 (批准号 :699760 0 5 );北京市科委(合同号 :95 5 0 3 12 0 0 0 )资助项目~~
研究了采用感应耦合等离子体 原子发射光谱技术表征高剂量氧注入单晶硅制备SIMOX SOI材料过程中金属杂质污染的有效性 .同时研究了采用强酸清洗、加SiO2 膜覆盖等方法对降低污染程度的效果 .利用ICP技术可以对大面积或整个硅片进行采样 ...
关键词:SOI材料 金属污染 感应耦合等离子体技术 
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