马传贺

作品数:1被引量:5H指数:1
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发文领域:理学电气工程更多>>
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铜锌锡硫带边电子结构及缺陷态的光学表征被引量:5
《红外与毫米波学报》2020年第1期92-98,共7页马骕驭 马传贺 卢小双 李国帅 孙琳 陈晔 越方禹 褚君浩 
国家自然科学基金(61790583,61874043,61874045,61574057;61574059);航空科学基金(201824X8001);国家重点研发计划(2016YFB0501604)~~
利用吸收、光电流和光致发光等光谱表征并结合理论报道,分析了缺陷态丰富的铜锌锡硫半导体材料的光学带隙、带尾态和深浅杂质能级,揭示了Sn_(Zn)相关的缺陷态是影响铜锌锡硫带边电子结构的关键因素,其中高浓度的中性缺陷簇[2Cu_(Zn)+Sn_...
关键词:禁带宽度 半导体缺陷 光谱表征 铜锌锡硫 
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