马一博

作品数：4被引量：8H指数：2
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供职机构：中国石油大学（北京）化学化工学院更多>>
发文主题：测量方法颗粒粒径粒径扫描电子显微镜质心法更多>>
发文领域：机械工程理学一般工业技术更多>>
发文期刊：《分析测试学报》《中国粉体技术》《化学试剂》《光谱学与光谱分析》更多>>
所获基金：国家科技支撑计划更多>>
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纳米颗粒的粒径测量方法被引量：4
《中国粉体技术》2016年第5期54-57,共4页邢化朝 刘俊杰 许潇 魏伟胜 范燕 马一博 
国家科技支撑计划项目;编号:2011BAK15B05
为了实现扫描电子显微镜(SEM)对纳米颗粒粒径的准确测量,研究了一种SEM放大倍数校准和光栅间距测量的方法;在SEM的不同放大倍数下对光栅纳米结构样板成像,运用MATLAB软件对显微镜图像进行灰度处理并读取灰度图像的亮度值数据,通过确定...
关键词：扫描电子显微镜 放大倍率校准 质心法 颗粒粒径 
基于GIXRR反射率曲线的二氧化硅纳米薄膜厚度计算被引量：2
《光谱学与光谱分析》2016年第10期3265-3268,共4页马一博 王梅玲 王海 袁珮 范燕 邢化朝 高思田 
国家科技支撑计划项目(2011BAK15B05)资助
为了快速、准确得到纳米薄膜厚度,采用Kiessig厚度干涉条纹计算薄膜厚度的线性拟合公式,计算了不同系列厚度（10-120nm）的二氧化硅薄膜。薄膜样品采用热原子层沉积法（T-ALD）制备,薄膜厚度使用掠入射X射线反射（GIXRR）技术表征,基于G...
关键词：厚度测量 掠入射X射线反射 二氧化硅薄膜 经验关系 
Cu(In,Ga)Se_2薄膜组成表面分析准确测量国际关键比对被引量：1
《分析测试学报》2015年第12期1408-1413,共6页王梅玲 王海 高思田 马一博 范燕 宋小平 
国家科技支撑计划项目(2011BAK15B05)
中国计量科学研究院参加了国际关键比对K129,采用X射线光电子能谱仪(XPS)建立了测量薄膜太阳能电池材料铜铟镓硒(CIGS)薄膜组成和深度成分分布的有效方法。采用合适的条件,对CIGS薄膜进行深度剖析,提出并完善了一套XPS深度剖析数据处理...
关键词：CIGS薄膜 表面分析 深度剖析 X光电子能谱 国际关键比对 
XPS分析过程中X-射线照射对PET的影响被引量：1
《化学试剂》2015年第12期1091-1093,1096,共4页范燕 王海 王梅玲 马一博 魏伟胜 邢化朝 
国家科技支撑计划项目(2011BAK15B05)
利用X-射线光电子能谱仪的X-射线源照射PET薄膜样品,通过XPS方法原位分析表征了X-射线照射对PET样品的损伤影响。X-射线照射对PET样品的影响显著:随着X-射线照射时间的延长,C1s峰整体向低结合能端发生位移,PET样品中元素C和O的原子百分...
关键词：聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET) X-射线照射 X-射线光电子能谱(XPS) 降解 
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