刘茁

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基于先验信息的综合孔径辐射计误差校正方法
《微波学报》2009年第6期91-96,共6页何方敏 李青侠 刘茁 黄全亮 朱耀庭 
国家自然科学基金项目(60705018)
误差会严重影响综合孔径微波辐射计的成像性能,需要进行校正。但是,随着系统工作频率的提高和阵列尺寸的扩大,校正难度越来越大。文中提出一种基于先验信息的综合孔径微波辐射计误差校正方法。该校正方法包括一个基于先验信息的校正矩...
关键词:综合孔径微波辐射计 先验信息 误差校正 图像反演 
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