王浩

作品数:6被引量:14H指数:2
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供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
发文主题:电子元器件片上系统故障预测与健康管理可靠性全寿命周期更多>>
发文领域:电子电信自动化与计算机技术经济管理理学更多>>
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一种片上系统片外互连可靠性仿真技术研究被引量:2
《电子产品可靠性与环境试验》2020年第S02期23-26,共4页李欣荣 雷庭 于迪 杨云 王浩 刘瑜珂 
结合国内SoC虚拟化验证体系的现状,梳理总结出了SoC片外互连可靠性仿真流程。并选取某型SoC开展片外互连可靠性仿真分析。通过开展热学仿真、振动仿真和寿命仿真等工作,最终得出了该型SoC的可靠性仿真结果,结果分析表明,该仿真方法满足...
关键词:片上系统 互连可靠性 仿真 
关于电子元器件质量数据资源建设思路的探讨被引量:2
《中国管理信息化》2020年第1期196-199,共4页王浩 黄志华 聂国健 郑丽香 杨云 于迪 李欣荣 
针对当前国内电子元器件质量数据资源建设中存在的数据分散、数据应用欠缺等问题,以电子元器件"研、用、管"各方的实际需求为基础,从数据资源体系构建、数据采集与规范化、数据管理与应用三方面入手,对电子元器件全寿命周期质量数据资...
关键词:电子元器件 数据资源建设 质量数据管理 
片上系统可靠性的虚拟化验证现状研究被引量:2
《电子产品可靠性与环境试验》2019年第5期96-100,共5页芈小龙 李欣荣 于迪 徐洁芬 杨云 王浩 雷庭 
结合国内外片上系统可靠性的虚拟化验证现状,总结出了国内在该领域存在的主要问题和差距,并提出了相关的改进建议;分析梳理出了国外常见的虚拟化验证架构及思路,可为开展片上系统可靠性虚拟化验证工作的相关科研人员提供技术参考。
关键词:片上系统 可靠性 虚拟化验证 
电子元器件全寿命周期质量信息指标体系构建被引量:6
《中国管理信息化》2019年第15期62-65,共4页杨云 任艳 于迪 王浩 李欣荣 周军连 
作为装备的基础组成单元,电子元器件全寿命周期质量数据对于支撑行业决策及装备器件选型、确定产品缺陷及薄弱环节、提升产品质量等具有重要意义,是推动元器件行业高速健康发展、国产电子元器件在装备中应用的依据。通过基于元器件全寿...
关键词:元器件 全寿命周期 质量信息 指标体系 
电迁移寿命预警电路设计
《电子产品可靠性与环境试验》2012年第B05期233-237,共5页王浩 罗宏伟 陈义强 陈媛 
提出了一种电迁移寿命的实时预测方法,并在0.18μm CMOS混合信号工艺下完成了预警电路的设计。预警电路与主电路放置在同一芯片上,经历相同的制造工艺和环境参数,任何影响主电路可靠性的因素都将施加在该预警电路上,从而克服了离线测试...
关键词:电迁移 可靠性 预兆单元法 
半导体级别故障预测与健康管理被引量:3
《电子产品可靠性与环境试验》2011年第5期58-62,共5页王浩 罗宏伟 陈媛 
随着集成电路特征尺寸按比例缩小,其可靠性问题越来越突出。为了避免因集成电路失效而发生灾难性后果,有必要对集成电路进行故障预测与健康管理。首先,介绍了故障预测与健康管理技术的发展概况;然后,阐述了实施半导体级别故障预测与健...
关键词:故障预测与健康管理 半导体产品 预兆单元 失效先兆 
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