曹建明

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供职机构:深圳大学电子科学与技术学院更多>>
发文主题:场效应晶体管FET绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管总剂量效应更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《固体电子学研究与进展》更多>>
所获基金:深圳市基础研究计划项目国家自然科学基金更多>>
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三栅FET的总剂量辐射效应研究
《固体电子学研究与进展》2013年第2期119-123,共5页刘诗尧 贺威 曹建明 黄思文 
国家自然科学基金青年科学基金资助项目(11109052);深圳市基础研究计划资助项目(JC201005280565A);深圳市基础研究计划资助项目(JC201005280558A)
通过对赝MOS进行不同剂量的辐射,得到不同辐射条件下赝MOS器件的I-V特性曲线,并通过中带电压法进行分析,得出在不同辐射下SOI材料的埋氧层中产生的陷阱电荷密度和界面态电荷密度参数。采用这些参数并结合Altal三维器件模拟软件模拟了硅...
关键词:绝缘体上硅 总剂量效应 赝金属氧化物半导体场效应晶体管 三栅场效应晶体管 
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