张浩

作品数：1被引量：1H指数：1
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发文主题：IDDQ测试DDQCMOS集成电路可靠性I更多>>
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浅谈CMOS集成电路的I_(DDQ)测试被引量：1
《微处理机》2007年第4期18-19,共2页张磊 王忆 张浩 
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。
关键词：IDDQ测试 缺陷 故障 可靠性 
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