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检索条件:"关键词=光学测量系统 "
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“PY-2型炮口冲击波光学测量系统”通过技术鉴定
《兵工学报》1985年第2期72-,共1页
由某研究所研制的“PY-2型炮口冲击波光学测量系统”,于1984年11月8日在北京通过技术鉴定。大口径火炮射击试验中的空气冲击波现象是一项重要的研究内容。由于受光测系统条件限制,一直采用缩小比例的模拟试验来进行。但实际上兵器试验...
关键词:炮口冲击波 PY-2 光学测量系统 技术鉴定 大口径火炮 热化学反应 光测 射击试验 缩小比例 火炮射击 
Starrett Company自动化、多功能测量产品
《现代制造》2018年第25期71-71,共1页
L.S.Starrett公司计划展出各类测量产品,包括自动视觉技术、光学测量系统、数字测量工具等。其中一项新产品是HVR100“Flip”数字视频系统,该系统可以垂直或侧向水平工作。其中一套系统将演示一种全自动化测量解决方案,该方案借助...
关键词:光学测量系统 自动化测量 产品 多功能 数字视频系统 机床工作台 tt公司 视觉技术 
非球面面形检测系统
《西安工业大学学报》2021年第6期683-683,共1页张立新 
由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度...
关键词:非球面面形 横向剪切干涉 光学非球面 干涉条纹图像 检测系统 光学测量系统 非球面测量 西安工业大学 
非球面面形检测系统
《西安工业大学学报》2020年第4期463-463,共1页张立新 
由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度...
关键词:非球面面形 横向剪切干涉 光学非球面 干涉条纹图像 检测系统 光学测量系统 非球面测量 西安工业大学 
辉门动力总成携手NanoFocusAG研发非接触式活塞环测量系统
《汽车维修技师》2017年第11期17-17,共1页
辉门动力总成携手NanoFocus AG(德国奥伯豪森)研发一种用于测量活塞环粗糙度和微观结构的非接触式光学共聚焦自动测量系统。该系统结合NanoFocus光学测量系统、软件及辉门活塞环产品数据库,能够帮助公司在位于德国布尔沙伊德的工厂...
关键词:自动测量系统 非接触式 动力总成 活塞环 研发 光学测量系统 生产控制 产品数据库 
破浪而出 向新而行——共谱高精度3D数字化应用新华章
《现代制造》2023年第1期53-53,共1页杨扬 
回顾2022年,整体大环境形势严峻,充满挑战,我相信很多企业都是逆风而上,努力拼搏,先临三维亦是如此。2022年是天远成立20周年的关键年份,其作为先临三维旗下品牌,专注于3D工业计量领域,为各制造业用户服务。我们参与起草的“基于结构光...
关键词:光学三维测量 计量技术规范 光学测量系统 量值传递 用户服务 校准规范 计量领域 根本遵循 
低噪声原子力显微镜系统设计被引量:1
《微纳电子技术》2022年第12期1360-1367,1387,共9页王硕 梁文峰 杨铁 于鹏 
国家自然科学基金资助项目(61927805,61925307)。
原子力显微镜(AFM)以其极高的分辨率成为纳米技术研究中最重要的扫描成像和检测分析仪器。AFM系统探针与样品间机械回路长度是影响系统性能的关键因素,回路越长,系统越容易受到外界噪声干扰,导致探针与样品间的振动越大,振动会降低系统...
关键词:原子力显微镜(AFM) 扫描成像 低噪声 机械回路 光学测量系统 
石榴石单晶薄膜磁光调制器被引量:1
《仪器仪表学报》1986年第2期197-202,共6页阮元绩 封敬璋 刘湘林 王洪祥 
本磁光调制器采用(Bi,Tm)_3(Fe,Ga)_5O_(12)和(Bi,Pr,Gd,Yb)_3(Fe,Al)_5O_(12)单晶薄膜作为磁光介质,膜厚2~10μm。调制波长范围0.55~2.5μm,调制频率2Hz~160KHz,调制度0.2~0.7。最小调制功率(f=1KHz)约20mW。经光学测量系统和仪器...
关键词:磁光调制器 调制频率 检偏器 波长范围 调制度 线偏振光 光学测量系统 偏振面 火石玻璃 起偏器 
航天器间相对状态光学测量系统校准方法研究
《现代电子技术》2006年第9期89-90,93,共3页李建锋 安宜贵 
介绍了航天器间相对状态光学测量系统的组成。为了保证系统测量测试精度,分析了测量系统中需要校准的3个方面:图像传感器内部参数;图像传感器间的转换参数;图像传感器与航天器平台间转换参数。针对每个需校准的方面,建立模型,提出了...
关键词:航天器 光学测量系统 相对姿态 校准 CMOS图像传感器 畸变 
Innova高精度尺寸光学测量
《光机电信息》2008年第3期48-48,共1页
Micro—Metric公司开发的Innova光学测量系统可用于半导体、光电器件和微机电系统(MEMS)装置等微小尺寸的点到点(PTP)和视场(FOV)非接触式测量。视场测量的最小尺寸为0.5μm,测量精度可达0.010μm(10nm);除可手动进行单点...
关键词:光学测量系统 微小尺寸 测量 高精度 非接触式测量 微机电系统 光电器件 最小尺寸 
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