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多模计数器静电放电损伤的失效分析被引量：3
《半导体技术》2017年第10期784-789,共6页席善斌 裴选 刘玮 高兆丰 彭浩 黄杰 
静电放电(ESD)损伤会降低半导体器件和集成电路的可靠性并导致其性能退化。针对一款国产2-32型多模计数器的失效现象,通过分析该计数器的电路结构,利用X射线成像、显微红外热成像、光束感生电阻变化以及钝化层、金属化层去除等技术对计...
关键词：多模计数器 单片微波集成电路(MMIC) 静电放电(ESD) 失效分析 失效定位 
一种新型任意多模移位计数器
《电气电子教学学报》2005年第2期40-44,共5页沈正元 肖洁 刘永旺 王志功 
提出了一种新型移位计数器,用实例讨论了各种双模、多模移位计数器的设计。因为移位计数器的设计可查已有的反馈函数表达式,所以十分容易。这种新型移位计数器不仅可以用于在吞脉冲技术中提高前置分频器的工作速率,而且特别适宜在有较...
关键词：移位计数器 规则序列 反馈函数 双模计数器 多模计数器 移位码 
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