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基于ATE的ATDF测试数据的研究
《集成电路应用》2020年第11期26-27,共2页王玉龙 
阐述在自动测试设备ATE中,将标准测试数据格式STDF转换成本文测试数据格式ATDF,直观认识测试数据的结构和内容,实现测试数据的收集、清洗、存储、分析与挖掘的产业化解决方案。
关键词：集成电路测试 自动测试设备 标准测试数据格式 文测试数据格式 计算机技术 
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