检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘玉菲[1,2] 刘文平[1,2] 李四华[1] 吴亚明[1] 罗乐[1]
机构地区:[1]中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室,微系统技术国家重点实验室,上海200050 [2]中国科学院研究生院,北京100049
出 处:《Journal of Semiconductors》2006年第z1期407-410,共4页半导体学报(英文版)
摘 要:应用苯并环丁烯(BCB)材料对硅片和玻璃片进行了250℃下的圆片级低温键合实验,同时进行了300℃下的硅片与玻璃片阳极键合实验,并对其气密性和剪切力特性进行了对比研究.测试结果表明:在250℃的低温键合条件下,经过500kPa He气保压2h,BCB封装后样品的气密性达到(5.5±0.5)×10-4Pa cc/s He;剪切力在9.0~13.4 MPa之间,达到了封装工艺要求;封装成品率达到100%.这表明应用BCB材料键合是一种有效的圆片级低温气密性封装方法.还根据渗流模型理论,讨论了简易模型下气密性(即渗流率)和器件腔体边缘到划片边缘的间距的关系.
分 类 号:TH706[机械工程—仪器科学与技术] TB743[机械工程—精密仪器及机械]
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