检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘磁辉[1] 徐小秋[1] 钟泽[1] 傅竹西[1]
机构地区:[1]中国科技大学物理系,合肥,230026 中国科技大学物理系,合肥,230026 中国科技大学物理系,合肥,230026 中国科技大学物理系,合肥,230026
出 处:《Journal of Semiconductors》2007年第z1期171-174,共4页半导体学报(英文版)
基 金:国家自然科学基金资助项目(批准号:50472009,10474091和50532070)
摘 要:用溶胶凝胶法(sol-gel technique)在p-Si上制备LiCl:ZnO薄膜.试样分别进行O2-600℃,O2-900℃热退火处理.在77~325K温度范围内作电流-温度(I-T)和深能级瞬态谱(DLTS)测量.DLTS测量获得的两种试样中存在一个稳定的深能级中心.(I-T)测量证实这个深能级中心是与ZnO的本征缺陷相关的.室温PL谱测量得到两种试样存在较强的深能级发光,而紫外发光较弱.由实验结果推测,试样主要的深能级发光过程是电子从双离化Zni**施主能级向单离化V'zn受主能级的跃迁.在O2气氛退火作用下深能级的发光强度增强.
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