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作 者:杨敏[1] 黄大鸣[1] 郝平海[1] 张甫龙[1] 侯晓远[1] 王迅[1]
机构地区:[1]复旦大学应用表面物理国家重点实验室
出 处:《物理学报》1994年第3期494-498,共5页Acta Physica Sinica
摘 要:发光多孔硅的喇曼光谱在520cm ̄(-1)附近呈现一锐峰,峰位的红移随多孔度的增大而增大采用微晶模型拟合喇曼谱的线形,发现除了光学声子的空间限制效应,硅单晶的应变对峰位的移动也有显著贡献。通过谱形的拟合估算了硅微粒的应变,与已报道的X射线衍射结果相一致。在多孔硅的喇曼光诸中没有观察到起源于非晶硅的光散射信号。The typical Raman spectrum from light-emitting porous silicon shows a sharppeak near 5 20cm ̄(-1). The peak wavenumber decreases with the increase of porosity.The lineshape analysis shows that both phonon confinment and strain effects in na-nocrystal silicon must be taken into account for the measured Raman spectra. Thestrain in porous silicon film is estimated and the result is consistent with that givenby X-ray diffraction studies.No light scattering from ainorphous phase is observed.
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