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作 者:孟志国[1] 吴春亚[1] 李娟[1] 熊绍珍[1] 郭海成[2] 王文[2]
机构地区:[1]南开大学信息学院光电子器件与技术研究所,光电子薄膜器件与技术天津市重点实验室,光电信息技术科学教育部重点实验室(南开大学,天津大学),天津300071 [2]香港科技大学电机电子工程系
出 处:《物理学报》2005年第7期3363-3369,共7页Acta Physica Sinica
基 金:国家高技术研究发展计划(批准号:2004AA303570);国家自然科学基金(批准号:60437030;60077011);国家出国留学人员回国基金;香港RGC资助的课题.~~
摘 要:提出了一种低温金属单向诱导横向晶化的多晶硅薄膜晶体管(LT_MIUCpoly_SiTFT)的技术.使用该技术可在大面积廉价玻璃衬底上制备出高迁移率、低漏电电流、具有较好均匀性的多晶硅器件.在进一步的研究中,设计了一种新型的栅控轻掺杂漏区(GM_LDD)结构,有效地解决了在较高源漏电压下的栅诱导漏电问题.使得LT_MIUC poly_SiTFT更适用于高质量的有源矩阵显示器.In this paper the low-temperature metal-induced unilaterally crystallized (MIUC) polycrystalline silicon thin-film transistors (TFTs) have been developed and characterized. These TFTs have higher field-effect mobility, lower off-state current and better spatial uniformity. A new structure of gate-modulated lightly doped drain of TFT was proposed. It is very effective to lower gate-induced drain-leakage current of the TFTs when a higher source drain voltage is applied to it. This type MIUC TFT is suitable to fabricate active matrices for liquid crystal and organic light-emitting diode flat-panel displays on large area glass substrates.
关 键 词:轻掺杂漏 金属诱导 结构 栅控 晶化 多晶硅薄膜晶体管 有源矩阵显示器 玻璃衬底 漏电电流 poly 迁移率 硅器件 均匀性 TFT 技术 Si
分 类 号:TN32[电子电信—物理电子学]
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