嵌入式存储器测试  

作　　者：Goh Swee Heng Toh Ser Chye Wong Kok Sun 

机构地区：[1]Staff Engineer Test R&D Test Development Product Engineering STATSChipPAC Ltd

出　　处：《集成电路应用》2008年第9期46-48,共3页Application of IC

摘　　要：随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。

关 键 词：嵌入式存储器 器件测试 存储器内建自测试 SOC系统 可测性设计 MBIST 制造技术 测试技术 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TM93[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]