大面积低温共烧多层陶瓷基板烧结收缩率一致性的控制  被引量:1

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作  者:章瑜[1] 王文华[1] 

机构地区:[1]电子部43所

出  处:《混合微电子技术》1998年第3期25-29,共5页Hybrid Microelectronics Technology

摘  要:大面积低温共烧多层陶瓷基板烧结收缩率的控制很重要,其收缩率的一致性决定了基板尺寸的一致性,这是基板上上实用的关键之一。我们通过实验研究来控制这些因素,可将烧结收缩率控制在14%±0.4%以内。

关 键 词:低温共烧 多层陶瓷基板 烧结收缩率 VLSI ULSI 

分 类 号:TN470.5[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

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