Xilinx、ARM、Cadence携手台积公司共同构建首款采用7纳米工艺的CCIX测试芯片  

出　　处：《单片机与嵌入式系统应用》2017年第10期5-5,共1页Microcontrollers & Embedded Systems

摘　　要：赛灵思、ARM、Cadcncc和台积公司宣布一项合作，将共同构建首款基于台积7纳米FinFET工艺的支持芯片间缓存一致性（CCIX）的加速器测试芯片，并计划在2018年交付。这一测试芯片旨在从硅芯片层面证明CCIX能够支持多核高性能ARMCPU和FPGA加速器实现一致性互联。

关 键 词：纳米工艺 CADENCE 硅芯片 XILINX ARM 测试 同构 缓存一致性 

分 类 号：TN40[电子电信—微电子学与固体电子学]