德摩根一致代数的度量化  

Metrization in De Morgan algebra of Uniformity

作　　者：李庆国[1] 陈学友[1] 邓自克[1] 

机构地区：[1]湖南大学数学与计量学院,长沙410082

出　　处：《数学理论与应用》2003年第2期9-12,共4页Mathematical Theory and Applications

摘　　要：我们给出了德摩根一致代数可伪度量化的一个充分必要条件We give a sufficient and necessary condition for a De morgan algebra of Uniformity to be pseudo-metrizable.

关 键 词：德摩根一致代数 伪度量 完备格 逆序对合对应 可数基 

分 类 号：O187[理学—数学]