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边界扫描板级链路测试性设计方法研究
《半导体技术》2004年第11期12-16,共5页刘明云 李桂祥 张贤志 杨江平 
边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法。但是在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器件实现JTAG互连,如何将边界扫描测试、在线编程和在线仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题。为解决上...
关键词：路测 链路 可测性设计 边界扫描测试 边界扫描技术 VLSI电路 互连 在线编程 扫描链 测试性设计 
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