体电阻

作品数:50被引量:58H指数:5
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相关作者:毕津顺韩郑生丛晓庆张华民姚学玲更多>>
相关机构:中国科学院西安交通大学中国建筑材料科学研究总院有限公司吉坤日矿日石金属株式会社更多>>
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130nm PDSOI DTMOS体延迟研究
《半导体技术》2010年第9期868-870,共3页毕津顺 韩郑生 海潮和 
国家重点基础研究资助项目(2006CB302701)
研究了基于IBM 8RF 130 nm工艺部分耗尽绝缘体上Si(PDSOI)动态阈值晶体管(DTMOS)体电阻、体电容以及体电阻和体电容乘积(体延迟)随Si膜厚度和器件宽度的变化。结果表明,Si膜厚度减小会导致体阻增大、体电容减小,但是体电阻和体电容的乘...
关键词:部分耗尽绝缘体上硅 动态阈值晶体管 体电阻 体电容 延迟 
新型部分耗尽SOI器件体接触结构
《半导体技术》2008年第11期968-971,共4页宋文斌 毕津顺 韩郑生 
提出了一种部分耗尽SOI MOSFET体接触结构,该方法利用局部SIMOX技术在晶体管的源、漏下方形成薄氧化层,采用源漏浅结扩散,形成体接触的侧面引出,适当加大了Si膜厚度来减小体引出电阻。利用ISE-TCAD三维器件模拟结果表明,该结构具有较小...
关键词:绝缘体上硅 浮体效应 体接触 寄生电容 体电阻 
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