静电损伤

作品数：58被引量：71H指数：4
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CCD图像传感器划片工艺优化被引量：1
《半导体光电》2015年第1期85-87,共3页谷顺虎 王艳 程顺昌 陈于伟 
针对某型CCD图像传感器划片过程中产生的静电损伤、崩边等缺陷造成器件失效,通过优化划片工艺条件,避免了静电损伤,减少了崩边缺陷,封装的成品率由48%提高至96%。
关键词：CCD图像传感器 划片 崩边 静电损伤 优化 
LED静电损伤在老化过程中的变化趋势被引量：4
《半导体光电》2011年第3期339-342,共4页袁晨 代文文 陈楚 严伟 
针对发光二极管(LED)的可靠性问题,将抗静电测试与高温老化实验结合,将蓝绿色发光材料制成的二极管分组,测试其经过老化过程后的光色参数变化。实验数据表明,蓝绿色LED裸片与封装样品老化过程中的衰减趋势有一定差异,老化程度与封装材...
关键词：LED 阿伦尼斯 ESD 可靠性 
白光LED的失效机理分析被引量：6
《半导体光电》2009年第6期857-859,882,共4页杨少华 吴福根 张春华 
论述了白光发光二极管(LED)在封装和应用中存在的主要模式和失效机理,并介绍了若干失效分析实例,提出了可靠性保证措施,对于进一步完善白光LED封装技术、提高其寿命和可靠性提供参考。
关键词：白光LED 失效机理 静电损伤 失效分析 
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