环路测试

作品数：14被引量：7H指数：1
导出分析报告
相关领域：电子电信更多>>
相关作者：任雄伟晋兆国胡庆虎贾荣华徐贵今更多>>
相关机构：广州新科宇航科技有限公司艾利森电话股份有限公司华为技术有限公司鸿富锦精密工业(深圳)有限公司更多>>
相关期刊：《硅谷》《世界电子元器件》《当代通信》《科学时代》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 期刊=世界电子元器件x
共 条 记 录，以下是1-1
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
《世界电子元器件》2007年第8期73-73,共1页
科利登系统公司推出解决方案SQpphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。D-6432DFT是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号...
关键词：高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部