厚度测量

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微小片状颗粒厚度的图像增强测量方法
《自动化仪表》2015年第7期78-80,共3页吴亚婷 李强 
国防基础科研基金资助项目(编号:12ZG6103)
针对某特殊环境下微小片状颗粒的厚度测量问题,给出了一种基于图像增强的在线测量方法。利用颗粒采样装置获取含有颗粒与标定板的图像,采用小波变换与形态学结合的方法进行图像增强处理,消除阴影与杂质干扰;采用标定算法对标定板图像进...
关键词:微小片状颗粒 图像增强 小波变换 形态学 厚度测量 
基于透射衰减和菲涅尔衍射的厚度测量法
《无损探伤》2010年第6期20-23,共4页陶亮 李振华 左凯 张祯滨 孙同景 
国防基础科研计划资助(B1420080209-08);国家自然科学基金资助(60904097)
提出了一种基于X射线透射衰减和菲涅尔衍射光学机理的工件厚度测量法。首先利用菲涅尔衍射模型对透射数字成像的边缘区域进行衍射校正,然后在相应能量的X射线透射作用下,根据其边缘处的厚度值,反推该材料的衰减系数,最后利用厚度测量公...
关键词:厚度测量 透射衰减 菲涅尔衍射 内部缺陷 
具有择优取向性的基材表面的薄膜厚度的X射线衍射测量修正
《无损检测》2009年第8期628-630,638,共4页张延志 赖新春 管卫军 王勤国 
国防基础科研课题资助项目(A1520070073)
根据薄膜对X射线的吸收效应,利用X射线衍射方法可测量出多晶基材表面的薄膜厚度。但试验结果显示,基材的择优取向效应对薄膜厚度的测量影响显著。根据理论分析,提出了择优取向修正方法。在对X射线衍射数据进行择优取向修正后,利用最小...
关键词:X射线衍射 择优取向 厚度测量 基材 薄膜 
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