管卫军

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供职机构：表面物理与化学重点实验室更多>>
发文主题：合金薄膜ZR合金ZRXAFS薄膜厚度更多>>
发文领域：一般工业技术金属学及工艺理学更多>>
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磁控溅射Ti-50%Zr合金薄膜不同厚度时的结构
《材料保护》2015年第10期38-40,57,共4页张延志 管卫军 郑黎荣 赖新春 汪小琳 
表面物理与化学重点实验室开放基金(SPC201006)资助
为了研究Ti-Zr合金薄膜厚度对其结构的影响,通过磁控溅射沉积技术在7105载玻片上制备了不同厚度的Ti-50%Zr(原子分数)合金薄膜。利用X射线衍射(XRD)、X射线吸收精细结构谱(XAFS)和X光电子谱(XPS)技术研究了Ti-Zr合金薄膜的晶体结构、元...
关键词：Ti-50%Zr合金 薄膜厚度 薄膜结构 
Ti-Cr合金薄膜局域结构的XAFS研究
《稀有金属材料与工程》2013年第S2期288-291,共4页张延志 管卫军 郑黎荣 赖新春 汪小琳 
表面物理与化学重点实验室开放基金(SPC201006)
为了研究薄膜厚度对Ti-Cr合金薄膜局域结构的影响,通过磁控溅射沉积技术制备了不同厚度的Ti-Cr合金薄膜试样,合金薄膜中Ti和Cr的含量接近。利用X射线吸收精细结构(XAFS)谱和X射线衍射(XRD)仪研究了Ti-Cr合金薄膜的局域结构状态。X射线...
关键词：Ti-Cr合金 XAFS 薄膜 局域结构 非晶 
具有择优取向性的基材表面的薄膜厚度的X射线衍射测量修正
《无损检测》2009年第8期628-630,638,共4页张延志 赖新春 管卫军 王勤国 
国防基础科研课题资助项目(A1520070073)
根据薄膜对X射线的吸收效应,利用X射线衍射方法可测量出多晶基材表面的薄膜厚度。但试验结果显示,基材的择优取向效应对薄膜厚度的测量影响显著。根据理论分析,提出了择优取向修正方法。在对X射线衍射数据进行择优取向修正后,利用最小...
关键词：X射线衍射 择优取向 厚度测量 基材 薄膜 
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