半导体特性分析系统

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4200-CVU：C-V测量功能模块
《世界电子元器件》2007年第11期74-74,共1页
吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直...
关键词：C-V测量 功能模块 4200-SCS 半导体特性分析系统 测量功能 测量模块 频率范围 元件模型 
4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案
《世界电子元器件》2005年第9期83-83,共1页
吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。
关键词：半导体特性分析系统 4200-SCS 脉冲式 测量方案 器件特性 测量功能 信号发生 200型 存储芯片 敏感器件 
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