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SI/SIGE: 作品数：59被引量：59H指数：4; 导出分析报告; 相关领域：电子电信更多>>; 相关作者：陈建新史辰杨维明李成林桂江更多>>; 相关机构：北京工业大学中国科学院厦门大学西安交通大学更多>>; 相关期刊：《Optoelectronics Letters》《Journal of Rare Earths》《半导体杂志》《中国学术期刊文摘》更多>>; 相关基金：国家自然科学基金北京市自然科学基金国家重点基础研究发展计划北京市科技新星计划更多>>

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Characterization of Si/SiGe/Si Deposited on SIMOX SOI by Synchrotron Radiation X-Ray Double-crystal Topography: 《Journal of Rare Earths》2004年第z2期5-7,共3页Ma Tongda Tu Hailing Hu Guangyong Wang Jing; The synchrotron X-ray double-crystal topography was employed to investigate the structure of Si/SiGe/Si deposited on SIMOX SOI. Rocking curves with three diffraction peaks were acquired before and after 180° rotation...; 关键词：SYNCHROTRON radiation double-crystal TOPOGRAPHY TILT STRAINED relaxation

Photoreflectance Spectroscopy for Study of Si/SiGe/Si Heterostructure: 《Journal of Rare Earths》2004年第z2期17-20,共4页Liu Zhihong Chen Changchun Lin Huiwang Xiong Xiaoyi Dou Weizhi Tsien Pei-Hsin; UHVCVD-grown Si/Si1- xGex/Si heterostructure was investigated by Photoreflectance spectroscopy (PR). The principle of PR used in semiconductor film was thoroughly described. According to the E1 transition energy in th...; 关键词：SIGE/SI photoreflectance UHVCVD

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