4200-SCS

作品数：41被引量：1H指数：1
导出分析报告
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
相关作者：王一帮张建新董金珠梁法国乔玉娥更多>>
相关机构：吉时利仪器公司东北师范大学中国电子科技集团第十三研究所中国科学院更多>>
相关期刊：《电子测量技术》《通用机械》《半导体技术》《电信科学》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

结果分析中...
选择条件：
  • 期刊=世界电子元器件x
共 条 记 录，以下是1-3
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
单机实现三大基本特征分析功能的吉时利超快C-V测量系统
《世界电子元器件》2010年第3期74-74,共1页
吉时利仪器公司推出最新的4225-PMU超快I-V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流，电压测量功能，实现了更宽的电压、电流和上升／下降...
关键词：吉时利仪器公司 测量系统 测量功能 特征 4200-SCS 单机 测试模块 波形发生 
4200-CVU：C-V测量功能模块
《世界电子元器件》2007年第11期74-74,共1页
吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直...
关键词：C-V测量 功能模块 4200-SCS 半导体特性分析系统 测量功能 测量模块 频率范围 元件模型 
4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案
《世界电子元器件》2005年第9期83-83,共1页
吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。
关键词：半导体特性分析系统 4200-SCS 脉冲式 测量方案 器件特性 测量功能 信号发生 200型 存储芯片 敏感器件 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部