测试矢量

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一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页崔小乐 李红 史新明 程作霖 
国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG...
关键词：静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 
基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量生成
《微电子学》2012年第5期737-740,共4页王承 刘治国 叶韵 梁海浪 何进 
国家自然科学基金资助项目(60936005);深圳市杰出青年项目(JC201005280670A)
提出一种基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量自动生成方法。根据待测电路可利用的测试点,进行测试点优选和模糊元器件确定,实现可测性分析;应用灵敏度分析,实现多频测试矢量自动生成。实验结果表明,该方法对模拟电路测试矢量生成非...
关键词：可测性分析 模拟电路 多频测试矢量 故障诊断 
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