测试矢量

作品数:58被引量:67H指数:6
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一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
《微电子学与计算机》2014年第6期72-76,共5页崔小乐 李红 史新明 程作霖 
国家自然科学基金资助项目(61006032);广东省自然科学基金资助项目(S2011010001234);深圳市科技计划资助项目(JCYC20120614145742639;ZYC201105170354A)
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG...
关键词:静态老化 测试矢量 漏电功耗 故障模型 
0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生被引量:2
《微电子技术》2000年第2期17-21,共5页居水荣 郑明 
给出了在以VHDL为硬件描述语言的 0 9μmCMOS标准单元正向设计中 ,在存在用户定制单元及ROM宏单元情况下的总体仿真方法 ,讨论了测试矢量的产生及验证。
关键词:总体仿真 测试矢量 正向设计 ASIC 集成电路 MOS 
布尔差分生成测试矢量方法的改进
《上海工业大学学报》1994年第4期350-357,共8页孙家琪 
关键词:布尔差分 测试矢量 s-a型故障 测试生成算法 
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